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纳米位移台依靠压电陶瓷驱动实现纳米级定位，在样品承载、精密扫描场景中，若样品重心偏离位移台中心，会产生横向串扰，直接降低多轴联动的定位精度，是纳米位移台使用过程中典型的精度问题。
现象：纳米位移台沿目标轴向运动时，非运动轴同步出现额外位移，扫描轨迹发生偏移；进行二维光栅扫描时，线条出现倾斜、弯曲，负载重量越大，串扰带来的偏差越显著；空载状态下测试定位精度指标正常，加装样品后定位重复性明显下降。
成因：纳米位移台的压电陶瓷输出推力沿中心轴线设计，当负载重心偏心，运动过程会产生附加弯矩，使得柔性铰链发生非预期侧向形变，引发横向串扰。不同品牌型号纳米位移台的柔性铰链结构、抗偏心负载能力参数差异较大，部分紧凑型位移台对负载重心位置更加敏感。样品夹具的厚度、安装平整度，也会改变重心位置，放大串扰效应。
改善方案：使用纳米位移台装夹样品时，尽量保证负载重心落在位移台台面中心；选用轻量化样品夹具，降低附加负载力矩；在纳米位移台控制软件中开启多轴串扰补偿功能，基于标定数据修正横向位移偏差；控制负载总质量，不超过纳米位移台额定承载上限；定期对纳米位移台多轴正交度与串扰系数进行标定更新。